Макеєнко І.Л.

Макеєнко Ірина Леонідівна, студентка Національного технічного університету України “Київський політехнічний інститут”.

Субпіксельне оцінювання параметрів об’єктів за аероскопічними знімками

Досліджено метод центра тяжіння для знаходження характеристик симетричних об’єктів на цифрових зображеннях. Оцінки мають похибку, меншу за розміри пікселя (субпіксельна точність). Показано, що метод є не лише точнішим за аналоги, але і швидшим. Отримані результати дають можливість оцінити оптимальні розміри тест-об’єктів для калібрування космічних сканерів та параметри дефокусування для перспективних зоряних камер.